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  • GD2660真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    GD2660真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • ERZK-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ERZK-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • ZKD-III真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ZKD-III真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • ZDKD-B真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀廠家
    ZDKD-B真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀廠家
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • DVM-99 真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    DVM-99 真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • JLZK-600真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    JLZK-600真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • MKY-DVM-99真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    MKY-DVM-99真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • SDKG-155真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    SDKG-155真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • HM6070系列真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    HM6070系列真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • HV-3690真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    HV-3690真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • HYKZ-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    HYKZ-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • ZKGG-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ZKGG-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • CYZK-IV 真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    CYZK-IV 真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • GG-LYZK-Ⅴ真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    GG-LYZK-Ⅴ真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • YTC3991 真空度測(cè)試儀
    YTC3991 真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • xuji真空度測(cè)試儀
    xuji真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • MVC-385真空度測(cè)試儀
    MVC-385真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • GH-6101真空度測(cè)試儀
    GH-6101真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • MEZK-IV真空度測(cè)試儀
    MEZK-IV真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間:2024-05-09

  • M25416真空度測(cè)試儀
    M25416真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒(méi)有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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